Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS)

 

Adquisición de espectros fotoelectrónicos de rayos X en espectrómetro ESCA+ de OMICRON.

El sistema dispone de una fuente dual de rayos X (MgKα=1253.6 eV, AlKα=1486.6eV), analizador hemiesférico y detector con 7 channeltrons.

Posibilidad de realizar análisis en profundidad (bombardeo con iones Ar+), imaging (resolución lateral de 60 micras) y tratamiento previo de la muestra en cámara de reacción.

Personal: Elvira Aylón, Isaías Fernández

 


Instrucciones y Formularios de Solicitud de Análisis