Servicio de Microscopía

Microscopia electrónica de barrido SEM-EDX

SEM EDX Hitachi S-3400 N
SEM EDX Hitachi S-3400 N

El microscopio electrónico de barrido (SEM), inicialmente pensado para obtener imágenes de gran resolución de los rasgos topográficos superficiales de los objetos, se fundamenta en la interacción de un haz primario de electrones con el objeto que se pretende estudiar. Se trata de un haz muy fino, intenso y estable que, explorando la superficie de la muestra, origina señales diversas que, convenientemente tratadas, permiten obtener información tanto morfológica  como estructural y microanalítica.
Una de las características principales de la microscopía electrónica de barrido es la gran versatilidad de sus aplicaciones.

El Servicio de Análisis del ICB dipone de un microscopio SEM EDX Hitachi S-3400 N de presion variable hasta 270 Pa con analizador EDX Röntec XFlash de Si(Li). Asímismo, dispone de un equipo de preparación de muestras que incluye el corte, pulido y recubrimiento con oro (sputtering) con espesor controlado.