Difracción de Rayos X

Difractómetro
Difractómetro D8 Advance de Bruker

Esta técnica, a través del tratamiento de los difractogramas obtenidos, permite realizar estudio de cristalinidad, análisis cualitativos y cuantitativos de fases cristalinas y amorfas, así como la determinación de parámetros de celda cristalina. Dichos tratamientos se realizan por el método de Rietveld con el software EVA y TOPAS (Bruker) y conforme a la Norma UNE-EN 13925 (1-2-3).

Se dispone de un equipo de difracción de rayos X de polvo policristalino Bruker D8 Advance con posibilidad de trabajar en geometría Bragg-Brentano theta-theta, espejo Göbel para geometría de haz paralelo, ángulo rasante y accesorio capilar. El equipo cuenta con una fuente de rayos X con ánodo de cobre (radiación CuKalpha) y dos detectores: un detector puntual de centelleo y un detector lineal LynxEye.