Microscopía Electrónica de Barrido SEM-EDX

SEM EDX Hitachi S-3400 N
Microscopio SEM EDX Hitachi S-3400 N

El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM), inicialmente pensado para obtener imágenes de gran resolución de los rasgos topográficos superficiales de los objetos, se fundamenta en la interacción de un haz primario de electrones con el objeto que se pretende estudiar. Se trata de un haz muy fino, intenso y estable que, explorando la superficie de la muestra, origina señales diversas que, convenientemente tratadas, permiten obtener información tanto morfológica como estructural y microanalítica.

El Servicio de Análisis y Caracterización dispone de  un microscopio SEM-EDX Hitachi S-3400 N de presión variable con analizador EDX Röntec XFlash de Si(Li).  La misión de esta unidad es la obtención de micrografías electrónicas, microanálisis de fluorescencia de rayos X por medida de dispersión de energía y la obtención de imágenes topográficas.

    • Microscopía electrónica de barrido (SEM) de alto y bajo vacío, análisis de fluorescencia de rayos X por dispersión de energías (EDX) acoplado a SEM.
    • Sistema de preparación de muestras para microscopía electrónica (corte, pulido a espejo y recubrimientos metálicos de espesor controlado).